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透射电子显微镜

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透射电子显微镜TEM

产品型号

JEM-2100UHR

生产厂家

日本电子(JEOL)

仪器介绍

JEM-2100型透射电子显微镜广泛应用于材料科学、纳米技术和生命科学等领域。搭载Windows操作界面,操作更简单。采用3级聚光镜设计在任何束斑尺寸下都可以提供高亮度电子束,大大提高了分析和衍射成像能力。

特点:

1.五种极靴UHR、HR、HT、HC、CRYO

2.稳定的操作系统

3.最小束斑尺寸:0.5nm

4.良好的扩展性。

JEM-2100UHR型透射电镜配合EDS能谱与CCD相机可同时进行材料晶体结构的电子衍射分析与高分辨像分析,兼具分析微相,观察图像,测定成分和鉴定结构等多种功能;配合能谱分析可以对样品的化学组成进行定性及半定量分析;在成像系统方面,可以直接拍摄电子衍射图像,并通过相应软件对衍射花样进行标注、分析,可完全取代传统的底片拍摄,能方便的直接观察、研究材料的内部的相组成和分布,以及晶体中位错、层错晶界、空位等缺陷,是研究材料微观组织最有力的工具之一。

主要附件

EDAX  XM2-30T型能谱仪

Gatan-832型CCD相机

技术参数

(1)TEM:

最高加速电压200kV,可选加速电压为80,100,120,160,200kV;

采用UHR超高分辨极靴,点分辨率0.19nm,线分辨率0.14nm;

放大倍率2, 000~1, 500, 000倍(高倍模式),50~6, 000倍(低倍模式);

衍射模式下相机长度80~2, 000mm;

样品台倾转角度为±20˚/±20˚(X,Y)。

(2)EDS能谱仪

采用Si(Li)探测器,配备30mm2超薄窗,能量分辨率优于136eV,检测元素范围为Be(Z=4)~U(Z=92)。

(3)CCD

1100万高像素(分辨率为4k×2.7k),可直接拍摄电子衍射图像,可完全取代底片拍摄透射高分辨像,具有14幅/秒的超高读取速度,记录动态图象。

应用范围

广泛应用于物理、化学、生物、地学、矿物、金属、半导体、陶瓷、高分子、复合材料、纳米材料等领域的研究和产品检验。

投入日期

2009.01

安放地点

逸夫实验楼116室

管理人员

李彦鹏

电话

13573825517,86984723(办)


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