产品型号
S-4800
生产厂家
日本日立公司
仪器介绍
该仪器配备超级E×B探测器以增强图像；其物镜的激发电流强，可提供高分辨电子光学图像；超强的抗震性；应用电子束减速技术使得分辨率在1kV时提高了30%。实现了低加速电压1kV时1.4nm的分辨率；日立的专利技术光阑自洁功能可有效降低光阑孔的污染速度，提供了优秀的分辨率稳定性；丰富的透镜模式为各种样品的应用提供了条件；快捷的样品更换；磁悬浮涡轮分子泵可降低对样品的污染。X射线能谱仪可以在高分辨率观察样品表面微观形貌的同时进行微区成分定性和定量以及元素分布分析
该仪器可广泛应用于材料科学、化学材料、医学材料以及生物工程、地质、钻井、采油等领域的样品的微观形貌观察、结构组织的分析、微区的定性和定量分析。
主要附件
EDAX XM2-60S能谱仪；日立E-1010离子溅射仪
技术参数
分辨率：15kV：1.0nm；1kV：2.0nm
加速电压：0.5～30kV
电子枪：冷场发射电子枪
放大倍数：30~800, 000倍
物镜光阑：加热自清洁式、四孔、可移动物镜光阑
应用范围
广泛应用于各种类型催化剂（催化剂的界面结构、载体、介孔分子筛、晶化温度变化对催化剂影响分析、重油加氢催化剂等）；油田化学品（高分子絮凝剂、缓蚀剂、粘土稳定剂、阻垢剂、抗菌剂等）；超导材料、半导体材料多层膜结构、阻燃剂；钢材料的失效分析；各种器件的表面损伤分析、组织结构、晶体的形态、结晶度、涂层材料；晶体的结构、组成；陶瓷；生物化石、生物实体；泥浆；金属、合金等材料，尤其是纳米材料（如：纳米ZnO、SiO2、金纳米颗粒、纳米碳管、纳米线、纳米棒、纳米带等）的微观形貌观察和超微结构分析；另外利用能谱仪可对各类样品进行微区成分定性和定量以及元素分布分析。
投入日期
2008.11
安放地点
逸夫楼118
管理人员
文玲
电话
13165091987
